See on Scoop.it – Analyses Physico-chimiques

… Sur le principe, rien de très neuf, car le NanoChemiscope est la réunion de deux techniques existantes. D’un côté, le microscope à force atomique (AFM) révèle la topographie d’une surface quasiment jusqu’à l’échelle des atomes, et peut aussi mesurer des propriétés électriques ou mécaniques locales. De l’autre, la technique de spectrométrie de masse dite ToF-SIMS est déjà utilisée pour analyser avec précision la composition d’une surface. Dans ce cas, pourquoi ne pas utiliser successivement les deux techniques sur le même échantillon ? « En passant d’un instrument à l’autre, on a pratiquement aucune chance d’observer la même zone de quelques microns sur l’échantillon. En intégrant les deux techniques dans le même instrument, on peut s’assurer que l’on analyse bien la même zone, à quelques dizaines de nanomètres près »…

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